《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志拒稿后是可以轉投其他期刊的， 但需要注意以下幾點：
一、確認拒稿狀態：在轉投之前，作者必須確保文章確實已被《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志拒稿。如果尚未收到明確的拒稿通知，建議耐心等待或主動向雜志社詢問審稿進度和結果。
二、修改論文：根據審稿意見修改論文，確保解決提出的問題，并改進論文的結構、方法、論證等方面。
三、轉刊操作建議
優先選擇同出版社期刊?：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.旗下其他地球科學雜志可能更易接收。?
選擇匹配度更高的期刊：參考JCR分區、影響因子、收稿方向，避免因“主題不符”再次被拒。
附修改說明?：轉投時建議提交針對前次拒稿意見的改進說明，提升通過率。
四、注意事項
避免一稿多投，保持耐心和信心。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志概括
國際標準簡稱：IEEE J-STARS
創刊時間：2008年
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期：Monthly
出版語言：English
出版地區：UNITED STATES
ISSN：1939-1404，E-ISSN：2151-1535
收錄數據庫：SCIE
學科領域：地學-成像科學與照相技術（IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY）
期刊定位：專注于發表成像科學與照相技術領域的文章，旨在為研究人員提供該領域的最新研究成果和前沿動態。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志審稿周期預計為： 約3.0個月 ，年發文量：約735篇，H-index：64。
《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志數據
（1）影響因子
該雜志的影響因子為4.7，在成像科學與照相技術領域具有較高的學術影響力。
（2）分區情況
中科院分區：
大類學科：地球科學2區。
小類學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY成像科學與照相技術2區。
JCR分區：
按JIF指標學科分區分區：Q1區; 按JCI指標學科分區分區：Q1區;
（3）CiteScore
CiteScore數值為9.3，（ 小類學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，分區為Q1，百分位：91%。小類學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，分區為Q1，百分位：89%。)
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