《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志屬于幾區？影響因子是多少？

《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志屬于中科院分區：2區，影響因子是：4.7。

出版周期：Monthly

OA是否開放：開放

Gold OA文章占比：97.73%

是否預警：否

出版語言：English

中科院分區信息：

從大類學科分區來看，《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志在中科院最新升級版分區表中位于地球科學2區。地球科學是一個廣泛的學科領域，涵蓋了從成像科學與照相技術的各個層面。該雜志能夠躋身2區，足以證明其在地球科學領域內的學術水平和影響力。

進一步細分到小類學科，該雜志則屬于IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY成像科學與照相技術領域，位于2區。

影響因子：4.7。從影響因子的角度來看，《Ieee Journal Of Selected Topics In Applied Earth Observations And Remote Sensing》雜志也表現出色，該雜志影響因子在不同年份有所波動，但總體呈上升趨勢，這種趨勢不僅反映了該雜志在學術界的影響力逐漸增強，也體現了其在推動地學-成像科學與照相技術領域發展方面的積極作用。

從JCR分區信息的角度， 按JIF指標學科分區分為：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區：Q1，排名：73 / 352，百分位：79.4%；GEOGRAPHY, PHYSICAL，分區：Q1，排名：7 / 65，百分位：90%；IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，分區：Q1，排名：8 / 36，百分位：79.2%；REMOTE SENSING，分區：Q1，排名：12 / 62，百分位：81.5%；
按JCI指標學科分區分為：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區：Q1，排名：77 / 354，百分位：78.39%；GEOGRAPHY, PHYSICAL，分區：Q1，排名：11 / 65，百分位：83.85%；IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY，分區：Q1，排名：8 / 36，百分位：79.17%；REMOTE SENSING，分區：Q1，排名：12 / 62，百分位：81.45%；