《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》國際標準刊號?ISSN：0923-8174，電子期刊的國際標準刊號：1573-0727。
創(chuàng)刊時間：1990年
出版周期：Bimonthly
出版語言：English
國際簡稱：J ELECTRON TEST
研究方向：工程：電子與電氣 - 工程技術(shù)
期刊定位與內(nèi)容：
電子測試理論與應(yīng)用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的學(xué)術(shù)刊物，主要報道工程：電子與電氣-工程技術(shù)相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創(chuàng)刊于1990年，出版周期Bimonthly。
《電子測試理論與應(yīng)用雜志》發(fā)表專家撰寫的簡短易懂的評論，重點介紹工程：電子與電氣的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。
《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評審，以確保原創(chuàng)性、及時性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發(fā)表。 《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評論文章，以促進對最新技術(shù)的更好理解。
《電子測試：理論與應(yīng)用雜志》的報道包括但不限于以下主題：
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測試；
模擬和數(shù)字電子電路的測試；
微處理器、存儲器和信號處理設(shè)備的測試；
故障建模；
測試生成；
故障模擬；
可測試性分析；
可測試性設(shè)計；
可測試性綜合；
內(nèi)置自測試；
測試規(guī)范；
容錯；
形式驗證硬件；
驗證模擬；
設(shè)計調(diào)試；
測試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；
自動測試設(shè)備（ATE）；
測試夾具；
電子束測試系統(tǒng)；
測試編程；
測試數(shù)據(jù)分析；
測試經(jīng)濟性；
質(zhì)量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級集成器件測試；
可靠系統(tǒng)測試；
制造良率和良率改進設(shè)計；
故障模式分析和工藝改進
出版周期與發(fā)文量：
該雜志出版周期Bimonthly。近年來，該期刊的年發(fā)文量約為43篇。
學(xué)術(shù)影響力：
2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級：Q4，2023年發(fā)布的影響因子為1.1，CiteScore指數(shù)2，SJR指數(shù)0.271。本刊非開放獲取期刊。
Cite Score（2024年最新版）
- CiteScore：2
- SJR：0.271
- SNIP：0.518
| 學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q3 | 495 / 797 |
37%
|
CiteScore：該指標由Elsevier于2016年提出，指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScorer的計算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發(fā)表的文章在2022年獲得的被引次數(shù)，除以該期刊2019年、2020年和2021發(fā)表并收錄于Scopus中的文章數(shù)量總和。
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