電子測試理論與應用雜志 SCIE

期刊簡介

電子測試理論與應用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的一本工程：電子與電氣-工程技術學術刊物，主要報道工程：電子與電氣-工程技術相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創刊于1990年，出版周期Bimonthly。2021-2022年最新版WOS分區等級：Q4，2023年發布的影響因子為1.1，CiteScore指數2，SJR指數0.271。本刊非開放獲取期刊。

《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。

《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：

VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；

模擬和數字電子電路的測試；

微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；

故障建模；

測試生成；

故障模擬；

可測試性分析；

可測試性設計；

可測試性綜合；

內置自測試；

測試規范；

容錯；

形式驗證硬件；

驗證模擬；

設計調試；

測試和診斷的人工智能方法和專家系統；

自動測試設備（ATE）；

測試夾具；

電子束測試系統；

測試編程；

測試數據分析；

測試經濟性；

質量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級集成器件測試；

可靠系統測試；

制造良率和良率改進設計；

故障模式分析和工藝改進