IEEE Transactions on Device and Materials Reliability SCIE

期刊簡介

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability(Ieee Transactions On Device And Materials Reliability)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本工程技術-工程：電子與電氣學術刊物，主要報道工程技術-工程：電子與電氣相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創刊于2001年，出版周期Quarterly。2021-2022年最新版WOS分區等級：Q2，2023年發布的影響因子為2.5，CiteScore指數4.8，SJR指數0.436。本刊非開放獲取期刊。

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發再到制造規模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數據庫。這個可靠性數據庫是滿足客戶期望的優質產品的基礎。這樣開發的產品具有高可靠性。高質量將實現，因為產品弱點將被發現（根本原因分析）并在最終產品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質量的過程將產生卓越的產品。歸根結底，可靠性和質量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產品在客戶條件下在現場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產品的創造至關重要。