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    Journal Of Electronic Imaging 加入收藏

    電子影像雜志 SCIE

    Journal Of Electronic Imaging

    約4.0個月 審稿時間

    4區中科院分區

    Q4JCR分區

    1影響因子

    1017-9909

    1560-229X

    J ELECTRON IMAGING

    UNITED STATES

    工程技術 - 成像科學與照相技術

    1992

    60

    Quarterly

    English

    316

    0.27...

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    期刊簡介

    電子影像雜志(Journal Of Electronic Imaging)是一本由SPIE出版的一本工程技術-成像科學與照相技術學術刊物,主要報道工程技術-成像科學與照相技術相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊,該刊創刊于1992年,出版周期Quarterly。2021-2022年最新版WOS分區等級:Q4,2023年發布的影響因子為1,CiteScore指數1.7,SJR指數0.264。本刊非開放獲取期刊。

    《電子成像雜志》發表電子成像領域所有技術領域的同行評審論文,這些論文通常涉及電子成像系統的設計、工程和應用。

    中科院分區信息

    電子影像雜志2023年12月升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
    電子影像雜志2022年12月升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
    電子影像雜志2021年12月舊的升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
    電子影像雜志2021年12月基礎版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    工程技術 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
    電子影像雜志2021年12月升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
    電子影像雜志2020年12月舊的升級版
    大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
    計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
    名詞解釋:

    中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果。在中科院期刊分區表中,主要參考3年平均IF作為學術影響力,最終每個分區的期刊累積學術影響力是相同的,各區的期刊數量由高到底呈金字塔式分布。

    JCR分區信息

    Journal Of Electronic Imaging(2023-2024年最新版數據)
    按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352
    19.2%
    學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36
    15.3%
    學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119
    17.2%
    按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
    學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354
    18.5%
    學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36
    15.28%
    學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120
    13.75%
    名詞解釋:

    湯森路透每年出版一本《期刊引用報告》(Journal Citation Reports,簡稱JCR)。JCR對86000多種SCI期刊的影響因子(Impact Factor)等指數加以統計。JCR將收錄期刊分為176個不同學科類別在JCR的Journal Ranking中,主要參考當年IF,最終每個分區的期刊數量是均分的。

    期刊數據統計

    1、Cite Score(2024年最新版)
    學科類別 分區 排名 百分位
    大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797
    32%
    大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224
    25%
    大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817
    25%
    名詞解釋:

    CiteScore:該指標由Elsevier于2016年提出,指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScorer的計算方式是:例如,某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發表的文章在2022年獲得的被引次數,除以該期刊2019年、2020年和2021發表并收錄于Scopus中的文章數量總和。

    2、綜合數據
    3、本刊綜合數據對比及走勢

    文章引用數據

    文章名稱 引用次數
    • Image privacy scheme using quantum spinn...

      13
    • Defogging of road images using gain coef...

      10
    • SWCD: a sliding window and self-regulate...

      10
    • Single image dehazing using a multilayer...

      10
    • Optimized fuzzy cellular automata for sy...

      9
    • Infrared and visible image fusion based ...

      8
    • Image segmentation via multilevel thresh...

      8
    • Joint classification of multiresolution ...

      7
    • Improved opponent color local binary pat...

      6
    • Combining background subtraction algorit...

      6

    期刊被引用數據

    期刊名稱 引用次數
    • IEEE ACCESS

      167
    • J ELECTRON IMAGING

      163
    • MULTIMED TOOLS APPL

      118
    • SENSORS-BASEL

      67
    • SIGNAL PROCESS-IMAGE

      44
    • APPL SCI-BASEL

      29
    • IEEE T IMAGE PROCESS

      29
    • IET IMAGE PROCESS

      29
    • OPT EXPRESS

      27
    • NEUROCOMPUTING

      26

    期刊引用數據

    期刊名稱 引用次數
    • IEEE T IMAGE PROCESS

      573
    • IEEE T PATTERN ANAL

      435
    • J ELECTRON IMAGING

      163
    • PATTERN RECOGN

      159
    • INT J COMPUT VISION

      153
    • NEUROCOMPUTING

      118
    • IEEE T CIRC SYST VID

      105
    • ACM T GRAPHIC

      74
    • MULTIMED TOOLS APPL

      74
    • PATTERN RECOGN LETT

      73

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